劉讓賢主編的《幾何量公差配合與技術測量(應 用型本科適用第2版)》圍繞幾何量測量技術、光滑 圓柱的尺寸公差與配合、幾何公差與幾何誤差檢測等 核 心知識,主要介紹了光滑圓柱的尺寸公差與配合、幾 何量測量技術、幾何公差與幾何誤差檢 測、表面粗糙度輪廓及其檢測、光滑限量規、滾動 軸承的公差與配合、圓錐公差與檢測、圓 柱螺紋公差與檢測、圓柱齒輪公差與檢測、鍵和花鍵 聯結的公差與檢測等內容,較為系統地 介紹了幾何量公差配合與技術測量的主要知識。各章 后均附有思考題與習題。本書表述新 穎,通俗易懂,例題頗多,方便自學。此次為修訂再 版。
本書可作為高等職業技術學院、職工大學的機械 設計與制造、模具設計與制造、數控技 術、機械制造與自動化、機電一體化技術等專業的教 材,也可供普通高等工科院校的師生和 從事機械設計、機械制造工作的工程技術人員閱讀參 考,還可作為機械制造業從業人員的自 學用書。